新生儿惊厥与脑瘫病因（上）

　　新生儿惊厥和脑瘫的病因都很复杂、广泛，既可发生在出生前（如各种原因所致胚胎期脑发育异常），也可发生在出生时（如新生儿窒息、产伤），还可发生在出生后（如各种中枢神经系统感染、心肺功能异常性疾病）。许多病因既是新生儿惊厥的原因，同时又是脑瘫的病因。在病因方面两者又有不同之处。

　　新生儿惊厥的病因随着围产医学的发展和产科技术的提高，以及新生儿重症监护技术的发展及神经影像学技术的广泛应用，近20年来有很大的变化。过去由产伤和窒息缺氧引起的新生儿惊厥减少，而由代谢异常引起的惊厥增多。现在由于高危新生儿和早产儿存活率的增高，由窒息、颅内出血引起的新生儿惊厥又有增加，尤其缺氧为引起新生儿惊厥的主要原因。对于体重小于2500g的早产儿，即使有低血糖或低血钙存在，也多继发于围产期窒息，颅内出血或感染。过去1/3的惊厥原因不明，某些脑血管疾病，脑先天畸形或脑发育不全等难以发现的病因，由于诊断技术的进步也得以明确。

　　自1843年Little首先提出窒息与脑瘫有关系以来，一直认为围产期窒息是脑瘫的主要原因。而许多文献报道新生儿窒息在脑瘫病因中仅占少数，78%的脑瘫由非窒息因素引起（Toffs，1990）。而低出生体重儿脑瘫发生率增高。国内报道（徐宝珍，1998）窒息仍为脑瘫的主要高危因素（占45。3%）。下面将新生儿惊厥的病因及与脑瘫有关的高危因素归纳如下：

　　一、缺氧缺血性脑病（HIE）

　　缺氧缺血性脑病是新生儿惊厥的主要原因。继发于围产期窒息的HIE占惊厥病因的30%～70%。北医三院报告67例新生儿惊厥，其中HIE占惊厥病因的16。4%，中重度HIE90%由围产期窒息引起。翟丽云（1997）报告97例新生儿惊厥，其中缺氧缺血性脑病占惊厥病因的30%。窒息缺氧导致无氧代谢的增加，能量产生减少，有毒的代谢产物堆积。此外，中重度HIE伴有肝肾等多器官功能衰竭和血液系统功能紊乱，以及电解质和化学物质代谢方面的改变，这些均可引起惊厥发作，甚至造成脑损伤，遗留神经系统后遗症，如脑瘫、智力低下、癫痫等。随访55例新生儿HIE（王芬梅，1997）脑瘫为7。2%，智力低下为16。4%，脑瘫合并智力低下为60%。以上说明窒息、HIE、惊厥、脑瘫之间有密切关系。

　　新生儿HIE的临床表现除惊厥以外，可有意识状态的改变，肌张力的变化和原始反射及颅神经的异常。轻度HIE表现兴奋、原始反射正常，肌张力正常或增高，无惊厥出现，脑电图多数正常；中度HIE呈抑制状态、嗜睡、肌张力减低、原始反射减弱，多出现较频繁的惊厥，脑电图轻至中度异常；重度HIE表现不同程度的昏迷，肌张力低下，甚至全身松软，原始反射消失，伴有频繁惊厥，同时可合并颅内出血，脑电图重度异常。新生儿HIE惊厥出现得比较早。多在生后6～12h，生后24～36h频繁惊厥发作，并难以控制，表现为惊厥持续状态。发作类型主要为微小发作，多灶性阵挛性发作，可以单一发作形式出现或合并其他发作类型。脑电图异常与临床表现和脑病严重程度相一致。重度HIE可表现背景活动异常，如爆发性抑制，低电压、电静息，以及惊厥性放电。这种异常脑电图反映脑功能有明显紊乱，提示预后不好。